X射線熒光光譜儀(X-rayFluorescenceSpectrometer,簡(jiǎn)稱:XRF光譜儀),是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測(cè)量方法。X射線熒光(XRF)是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時(shí)激發(fā)出的次級(jí)X射線。這種現(xiàn)象被廣泛用于元素分析和化學(xué)分析,特別是在金屬,玻璃,陶瓷和建材的調(diào)查和研究,地球化學(xué),法醫(yī)學(xué),考古學(xué)和藝術(shù)品,例如油畫和壁畫。
X射線熒光光譜儀產(chǎn)品特點(diǎn):
1、無(wú)損檢測(cè),可對(duì)電子電氣設(shè)備,玩具指令中的有害物質(zhì)進(jìn)行定性定量分析。
2、測(cè)量時(shí)間短,客戶可選擇測(cè)試時(shí)間:60-300秒。
3、全封閉式金屬機(jī)箱及防泄漏保護(hù)開關(guān)設(shè)計(jì),更好地確保操作員的人身安全。流水線型外觀,美觀大方。
4、配備XY軸可移動(dòng)平臺(tái),方便樣品點(diǎn)選測(cè)試。
5、點(diǎn)擊軟件電動(dòng)自動(dòng)開關(guān)樣品腔蓋,無(wú)需手動(dòng)打開關(guān)閉,人性化操作!
6、采用美國(guó)電制冷Si-pin探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性,無(wú)需耗材。
7、超短光路設(shè)計(jì),配套*的光管管控程序,更有效延長(zhǎng)X光管壽命。良好的散熱系統(tǒng),更能確保儀器的超長(zhǎng)使用。
8、上照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求,的樣品成像準(zhǔn)直系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的準(zhǔn)確點(diǎn)測(cè)。
9、移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)。
10、準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)自動(dòng)切換,滿足各種物質(zhì)測(cè)試方式的應(yīng)用。